Shadow moire test | 私立大學五星教授網

Moirė)、陰影疊紋(shadow moirė)、疊紋干涉儀(moirė interferometry)、投射疊紋(projection moirė)、sampling moirė，其量測優點在於非接觸式、非破壞性、全域性、影像 ...

美國Akrometrix · 熱變形外貌檢測儀 · NEW !! · Table Top Shadow Moiré (TTSM) · Shadow Moiré 技術 · 新一代表面測量和分析技術 · TherMoiré AXP 產品特性 · Akrometrix DFP ( ...

An optical noncontact method to measure warpage using a moiré fringe pattern resulting from the geometric interference between a flat reference grating and ...

通过分析光在样品表面的衍射现象，辅以可控的升降温条件，可获取样品的上表面形貌，模拟芯片或精密器件在回流焊过程（Reflow）中发生的翘曲变形。 设备信息 ...

在被測物體前放一雲紋柵線板或在柵線板後放被測物體，當擴束白光照射柵板時，會同時將柵投影到物體上，柵線與柵線在物體上的投影相疊合，會產生雲紋干涉條件，而且這些 ...

宜特量測翹曲的方式簡單且能在非常短時間內完成，除能個別獲得晶片與PCB翹曲資訊外，也能模擬後續可靠度驗證的環境條件，從中觀察產品因溫度導致翹曲、變形、甚至是斷裂， ...

First, shadow moiré requires a diffuse reflective surface for measurement. Second, shadow moiré is unable to measure sudden step heights. Here we look at case ...

光學量測技術總類相當多，本文主要著重於疊紋(Moirė) 量測技術介紹，依據目前主流技術發展其疊紋技術包含幾何疊紋法(Geometric Moirė)、陰影疊紋(Shadow Moirė)、疊紋干涉 ...

Shadow Moiré is a non-contact, full-field optical technique that uses geometric interference between a reference grating and its shadow on a sample to measure ...