由柯明道著作·2005—讓類比積體電路設計日益困難。本計畫針對閘.極氧化層之可靠度對類比積體電路所造成之.影響，進行分析與研究，並提出適用於低操作.電壓，且具有溫度補償特性的能隙參考 ...
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