薄膜量測技術 | 私立大學五星教授網

陰影疊紋法的原理是透過分析參考光柵與其投影至待測物表面之陰影光柵相互疊合而成的干涉條紋來做量測，故待測物之表面必須具有鏡面反射性質以反射參考光柵所投影之陰影光柵 ...

現行光學薄膜膜厚量測法，可大致分為反射分光法與橢圓偏光法兩種。 有人說橢圓偏光比較準，真的是這樣嗎? 大塚電子本身就有這兩種原理的機台，究竟有 ...

陰影疊紋法的原理是透過. 分析參考光柵與其投影至待測物表面之陰影光柵相互疊合而成的干涉條紋來做量測，故待測. 物之表面必須具有鏡面反射性質以反射參考光柵所投影之陰影 ...

... 量測的原理可概分為三大領. 域：『顯微技術』、『接觸式』以及『非接觸式』。如表3 ... 光學三角量測法則的運用可以解釋為一種解調變的過程，在此過. 程中，縱深或高度之 ...

由 洪文明 著作 · 2002 · 被引用 1 次 — ... 光學量測方法，選擇白光(多波長)為光源，分析. 討論兩種相移干涉術方法，來精確求得初始相位值。 論文中已經對兩種白光相移干涉術分別架設量測系統，進行微元. 件量測 ...

霧度計量測原理是儀器根據在一定條件下發出光線的總光通量、收集平行光線透射量、散射光線透射量，計算出透明材料的霧度值、穿透率值。

一般而言,反射光譜式較簡單,低成. 本,但受限於複雜結構的量測。 n與k的定義. 針式. 量測技術主要原理為:用一支極細的針 ... 50um,若要光學參數(n及k)一併測,則可量測. 的厚度 ...