金屬膜厚分析儀XRF 產品型號:FT110A

即放即測:無需人工對焦造成誤差,測量結果更可靠。□測試速度快:3秒自動對焦,10秒鐘完成50nm級極薄鍍層的測量。□無標樣測量:與以往的技術相比,薄膜FP軟體 ...

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