Ellipsometer | 私立大學五星教授網

橢圓偏光儀Ellipsometer · 型號：J. A. Woollam / M2000-DI · 光源：190 nm~1680 nm · 入射角：45-90 · 可量測膜厚範圍：5 nm至5 μm · 試片大小：大於1 cm*1 cm。 · 基板種類：Si ...

光學式的膜厚量測有不會接觸膜面，以及可以得知光學參數等優點。 現行光學薄膜膜厚量測法，可大致分為反射分光法與橢圓偏光法兩種。這兩種兩測法究竟有什麼不同， ...

橢圓偏光儀-alpha 2.0-橢偏儀-光阻厚度/非破壞性薄膜厚度量測-J.A.Woollam 光譜 ... 可測得極薄的膜厚：測量的Δ參數具有高度的靈敏度，所以可測得超薄的膜厚(<10nm) ...

分析自樣品反射之偏振光的改變，橢圓偏振技術可得到膜厚比探測光本身波長更短的薄膜資訊，小至一個單原子層，甚至更小。橢圓儀可測得複數折射率或介電函數張量，可以此獲得 ...

分析自樣品反射之偏振光的改變，橢圓偏振技術可得到膜厚比探測光本身波長更短的薄膜資訊，小至一個單原子層，甚至更小。橢圓儀可測得複數折射率或介電函數張量，可以此獲得 ...

而橢圓儀就是藉由偵測樣品表面的反射光，來量測此改變(既反射光和入射光的振幅及相位的改變量)，以決定表面特性和薄膜的光學常數(n,k值)及膜厚。 光譜式橢圓儀能在寬廣 ...

高精度薄膜解析分光橢偏儀、測定角度可自動調整機構、能對應所有可透光種類的薄膜。以回轉檢光子、位相差板設置自動切換機構使測定精度提升。最小光學膜厚測定範圍 ...

由 謝余松 著作 — 橢圓偏光術是一種特殊的薄膜特性量測技術，利用該方法可獲得待測樣品之薄膜厚度、折射率、消光係數. 與表面粗糙度等重要參數。本文探討將橢偏術應用於單層薄膜之膜厚計算 ...

从下面表格可以看出, 光谱反射仪通常是薄膜厚度超过10um的首选，而椭偏仪侧重薄于10nm的膜厚。在10nm到10um厚度之间，两种技术都可用。 而且具有快速，简便，成本低特点的 ...

多波長優勢 · 量測透明薄膜厚度 · 其他參數量測，如：表面粗糙度、多層膜厚及分散係數 · 可連續監測參數，提供8種波長之分析報告參數分析，媲美光譜儀 ...