掃描透射電子顯微鏡 | 私立大學五星教授網

电子束斑与样品作用的同时，样品下方具有一定孔径的环形探测器同步接收散射电子，由入射电子穿透样品激发出来的电子信号依据散射角度进行收集、信号转换与成像。 在这一过程中，施行逐点扫描，逐点成像，在连续扫描过样品的一个区域后即可得到最终的扫描透射结果。

高角度暗場像（STEM-HAADF）係利用環狀設計的影像感測器接收高角度散射之電子，過濾掉繞射對比進而呈現出元素分佈影像。對於不同材料的各金屬層，HAADF偵測器可依材料之 ...

2017年9月6日 — 在扫描电镜中，电子束与薄样品相互作用时，会有一部分电子透过样品，这一部分透射电子也可用来成像，其形成的像就是扫描透射像（STEM像）。 ... 由于扫描 ...

STEM用電子束在樣品的表面掃描，通過電子穿透樣品成像。STEM技術要求較高， ... 工作原理. STEM成像不同於一般的平行電子束TEM， EDS 成像，它是利用會聚的 ...

TEM/STEM（穿透式電子顯微鏡/掃描穿透式電子顯微鏡）是密切相關的技術，主要是使用電子束讓樣品成像。使用高能量電子束，讓超薄樣品的圖像分辨率可以達到1-2Å的解析度 ...

在扫描透射电子显微镜（STEM）中，电子束聚焦于其可穿透的样品上，构成尺寸从数纳米到近乎原子尺度大小不等的束斑。入射电子将与样品发生交互作用，一旦发生散射，我们就 ...

具有原子解析度像差修正電子光學系統的設備為先進材料顯微結構分析應用之重要科學儀器，本文依序說明其相關儀器原理、發展歷程與簡明校正操作實務。 ... STEM 中收集 ...

本文簡短討論幾項在常用的TEM/STEM 材料分析技術時遇見的典型困擾，包括調機操作，成像技術的選擇，錯誤使用高分辨TEM 影像，EDS 能譜中銅訊號真偽的判斷，和TEM 模式的 ...

2023年11月15日 — 現今大多數TEM可以直接切換到STEM模式，使用者只需要改變其對準程序，在STEM模式下，電子束會被精準的並「掃描」樣品表面（如SEM），而成像由透射電子產生 ...

2023年8月25日 — 扫描成像：STEM通过控制电子束的位置来扫描样品表面。对于每个位置，透射电子通过样品并被探测器捕捉，形成一个像素点的信号。