透地雷達

量測過程藉由改變不同電極間距與位置,獲得不同幾何空間位置上的視電阻率值,稱為視電阻率剖面(Pseudo-Section),經由反算分析獲得真實電阻影像剖面,藉以了解地層構造。

透地雷達

量測過程藉由改變不同電極間距與位置,獲得不同幾何空間位置上的視電阻率值,稱為視電阻率剖面(Pseudo-Section),經由反算分析獲得真實電阻影像剖面,藉以了解地層構造。

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