感應耦合電漿質譜儀(ICP | 私立大學五星教授網

原理是ICP-MS樣品氣溶膠型態進入電漿離子源後，在6000K～10000K的高溫下，可使溶劑被去除、蒸發、解離、原子化、離子化等過程，進而轉變成帶正電荷的離子。藉由分析相關之條件， ...

電感耦合電漿體質譜法（英語：Inductively coupled plasma mass spectrometry，簡稱ICP-MS）擁有高的分析靈敏度和動態範圍，可以分析樣本中的同位素組成。

ICP-MS 与电感耦合等离子体发射光谱 (ICP-OES) 类似，但ICP-OES 使用光谱仪测量元素通过等离子体时发出的光，而ICP-MS 则直接测量元素（离子）。这两种技术都可以快速分析样品 ...

感應耦合電漿質譜分析儀(ICP-MS) · 重要規格：. 可測定75個元素，有60個以上元素的偵測極限可低達0.01ppb。 · 主要附件：. DELL OptiPlex XE3電腦，; CEM MARS 6 iWave微波爐.

感應耦合電漿質譜儀(ICP-MS) ... 本儀器主要為偵測樣品中微量金屬元素；樣品溶液經由樣品導入系統進入感應耦合電漿中，經氣化、原子化及離子化後產生單價離子，再藉由真空系統 ...

2019年12月25日 — ICP-MS是用來分析超微量元素的技術，這也代表我們必須降低分析目標物的背景，過高的背景污染可能會產生偽陽性結果或是比較差的偵測極限。

本儀器主要針對樣品中元素成分進行分析測定，依需求可對樣品進行半定量或特定元素之定量分析，對於大部分元素之偵測極限可臻< 1μg/L (ppb)。

2019年11月1日 — ICP-MS是目前偵測極限最低的元素分析技術， 依據機型規格的不同， 可以偵測到ppt甚至sub-ppt等級的離子濃度。 也因此背景中的雜質汙染十分重要，

專利技術介紹 · 市場領先的質量分離技術，可實現強大的同位素分析 · 超快掃描速度可檢測直徑大於10 nm的顆粒 · 最佳的檢測極限，因為背景噪聲 <1 count/sec ...