第三章、實驗結果分析與討論 | 私立大學五星教授網

2023年7月27日 — 圖3顯示一組DVD紀錄層的TEM分析影像和對應的選區繞射圖案(selected area diffraction pattern, 簡稱SADP)，圖3(b)的SADP中黃色箭頭指處的擴散型繞射環來自 ...

電子能量損失譜（EELS). •1.電子光學! •2.電子與晶體之作用. •3.繞射圖形(晶體結構)/菊池圖(結晶方向) ... 薄：電子透光. ＜50nm ～ 100nm. • E 在TEM的真空下, 只有乾燥樣品可以 ...

2023年5月23日 — 用TEM做材料分析得到的資料有三大類型: 影像、繞射圖案、能譜與成份映像圖。 ... 相對於非晶質材料，晶體材料的TEM明場影像除了散射對比外，還有繞射對比。

穿透式電子顯微鏡（英語：Transmission electron microscope，縮寫：TEM、CTEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而 ...

•因菊池圖比繞射圖形對晶向的改變更敏感，因此菊池圖提供更準確. 的晶向訊息. 菊池圖～better than 0.1度. 繞射圖～better than 10度. •決定繞射條件（偏離Bragg's條件 ...

因此穿透式電子顯微鏡分析即擷取穿透薄樣品之直射電子. (Transmitted Electron)或是彈性散射電子(Elastic Scattered Electron)成像，或作成繞射圖案. (Diffraction Pattern； ...

由分析X 光繞射圖譜( X-ray Diffraction，XRD ) 的譜線，如圖. 3-11，是以2θ scan 法收集Xray 繞射訊號，並且利用布拉格定律算出. 每根繞射峰的d 值( d-spacing ) ，和由TEM 繞 ...

英文名稱, Transmission Electron Microscope ; 功能說明, 1.穿透影像觀察(可至nm等級) 2.電子繞射作晶體結構分析(可作SAD及NBD)。 3.提供高亮度空間解析度的電子束，適合 ...

... 繞射圖樣(Diffraction Pattern, DP)，用以分析樣品中微細組織以及晶體結構；（3 ... 除此之外，一般電子能量損失能譜分析儀(EELS)是搭配在穿透式電子顯微鏡(TEM) ...