X光繞射 | 私立大學五星教授網

X光繞射儀（X-ray diffractometer，XRD）是利用X光繞射原理研究物質內部結構的一種大型分析儀器。令一束X光和樣品交互，用生成的繞射圖譜來分析物質結構。它是在X射線晶體 ...

X 光繞射儀(XRD) ... X 光儀器包含三個主要元件：X 光源、樣品架和 XRD 偵測器。 藉由光源所產生的X 光會照射樣品。接著X 光會受到樣品相的影響而產生繞射，然後進入偵測器。

X光繞射儀(XRD) · 1.X-ray光源：旋轉陽極銅靶(Cu Kαλ= 0.154060 nm)、18KW高壓電源供應器、陰極鎢燈絲：0.5 x 10 mm線出光及真空密閉環境 · 2.測角儀系統：水平式θ/2θ架構.

產品介紹Products · 桌上型X光繞射分析儀XRD. X-Ray Diffraction 產品型號：BTX III XRD · 攜帶式X光繞射分析儀XRD. X-Ray Diffraction 產品型號：Terra II XRD.

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XRD 專為提高性能而設計這種新型X 射線繞射系統採用PhotonMax 高通量9 kW 旋轉陽極X 射線源，與支援0D、1D 和2D 測量模式的HyPix-3000 高能量分辨率2D 多維半導體探測器相 ...

在蛋白質晶體中，每一個分子就如同一個柵欄，當X光通過整齊而重複排列的分子時，就會產生繞射現象。進一步，繞射光源彼此間又會形成干涉(圖 2)。因此，我們便可以利用干涉所 ...

X光繞射分析(X-ray diffraction analysis, XRD) 是透過X光與晶體的繞射產生圖譜，並從圖譜資料庫比對，即可推論出材料晶體的排列結構、晶體排列的方式和奈米晶粒大小， ...