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陰影疊紋是一種全域性、非接觸性、非破壞性的光學量測方法，常用於平面外位移與表面形貌之量測，量測範圍與解析度主要與其參考光柵之間距相關。

光學平板又稱光學平鏡，它是應用光學干涉原理，以. 檢驗工件之真平度、平行度和尺寸大小。 ‧光學平板應用及精確的單色光及迅速且易操作等特性，. 以從事精密量測工作。

光學自動量測技術 · AOI光學自動量測技術; 高效率影像處理技術; 智慧型幾何空間快速運算技術 · PC-Based程控、運動、視覺控制系統整合; 光機電系統整合技術 · 精密加工製造 ...

本研究採用的3D 量測系統是根據相位移（Phase shifting）技術. (Malacara,1992)，此方法之光學幾何架構如圖3-1 所示，當一正弦光柵投. 射於物體時，應用光學三角幾何，物體 ...

而在精密量測的範疇內，具備有非接觸性、非破壞性以及高精準度等特性的『光學量測』技術也因此而被廣泛的應用。 而在眾多的光學量測技術中，「光學干涉術」的技巧與 ...

疊紋技術需要兩個光柵，一個光柵與移動物件相連一起移動(試體柵)，另一個光柵固定. 不動(參考柵)，兩光柵因此產生相對位移條紋，將兩個相同的柵線重疊起來，可以看到明顯.

本書以光學測量方法與技術為中心，全面地介紹了光學測量所涉及的基本理率、測量原理、方法以及技術特點，既注重基本概念和基本原理的講述，又注重將理論與應用緊密結合，並 ...

2023年5月11日 — AI-powered光學量測技術以光譜反射法及散射量測法為基礎，其技術優勢在於運用雷射寬頻光源作為光學偵測方式，以所開創的演算方式進行AI深度學習反向優化最 ...

光學式的膜厚量測有不會接觸膜面，以及可以得知光學參數等優點。 現行光學薄膜膜厚量測法，可大致分為反射分光法與橢圓偏光法兩種。這兩種兩測法究竟有什麼不同， ...

接觸式：透過物理接觸(如光學CMM測量儀、接觸式探測頭、關節臂和某些座標測量機)來探測物件。 ○ 非接觸式：不需接觸物件即可採集3D數位資料，如3D雷射掃描器、結構光3D ...