2023年11月15日—加速電壓在掃描式電子顯微鏡(SEM)通常最高使用到30kV，而穿透式電子顯微鏡(TEM)可以將其設置在60-300kV的範圍內。與SEM相比，TEM提供的放大倍率也相當高， ...,TEM/STEM（穿透式電子顯微鏡/掃描穿透式電子顯微鏡）是密切相關的技術，主要是使用電子束讓樣品成像。使用高能量電子束，讓超薄樣品的圖像分辨率可以達到1-2Å的解析度 ...,穿透式電子顯微鏡（英語：Transmissionelectronmicroscope，縮寫：TEM、CTEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子 ...,高解析掃描穿透...
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