陰影疊紋 | 私立大學五星教授網

陰影疊紋法的原理是透過. 分析參考光柵與其投影至待測物表面之陰影光柵相互疊合而成的干涉條紋來做量測，故待測. 物之表面必須具有鏡面反射性質以反射參考光柵所投影之陰影 ...

透過光柵觀察物體時，可以觀察到光柵本身與隨著待測物形貌輪廓而改變的光柵影子，光柵與光柵影子產生干涉條紋，此條紋稱為陰影疊紋，利用此疊紋計算出物體的形貌輪廓，稱為 ...

由 高國書 著作 · 2021 — 光學量測技術總類相當多，本文主要著重於疊紋（Moirė）量測技術介紹，依據目前主流技術發展其疊紋技術包含幾何疊紋法（Geometric Moirė）、陰影疊紋（Shadow Moirė）、疊紋 ...

陰影疊紋法的原理是透過分析參考光柵與其投影至待測物表面之陰影光柵相互疊合而成的干涉條紋來做量測，故待測物之表面必須具有鏡面反射性質以反射參考光柵所投影之陰影光柵 ...

在疊紋法中係採用陰影疊紋法(Shadw moire method) 較佳。所謂Shadow moire 係因構成moire 的條紋由reference grating 及其投射到物體表面的陰影grating 兩者重疊而成。

透過光柵觀察物體時，可以觀察到光柵本身與隨著待測物形貌輪廓而改變的光柵影子，光柵與光柵影子產生干涉條紋，此條紋稱為陰影疊紋，利用此疊紋計算出物體的形貌輪廓， ...

和疊紋及陰影疊紋法( shadow moire )。線段投影法亦 有人稱之為和疊紋法,精度較差,在此從略。 在疊紋法中係採用陰影疊紋法 (Shadw moire method)較佳。所謂Shadow ...

陰影疊紋法為一光學量測系統，用於量測物體表面三維形貌，屬於非接觸式量測，所以不會對物體表面造成損傷。本文主要目的是利用四鄰點相位展開法搭配陰影疊紋法系統量測 ...