,穿透式電子顯微鏡（英語：Transmissionelectronmicroscope，縮寫：TEM、CTEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子 ...,2009年9月9日—SEM：scanningelectronmicroscopy掃描式電子顯微鏡利用電磁透鏡聚焦高能的電子束而在試片掃描樣品依其所激發出的二次電子與背向散射電子的接收對試片 ...,在這些新的研究工.具當中，穿透式電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscopy；TEM)可提供材料內部的形.態、晶體原子結構。自1936年第一台商用電子顯微鏡於英國建立 ...,透射电子显微镜（英语：...
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