x光繞射分析 | 私立大學五星教授網

X 光繞射(XRD) 是一種多功能的非破壞性分析技術，可用於分析物理性質，如粉末、固體與液體樣品的相組成、晶體結構及方向。 許多材料都是由微小晶粒所構成。這些晶體的化學 ...

由 楊仲準 著作 — 本文將由X 光粉末多晶繞射分析技術出發，並藉由所獲得之晶體參數，介紹其延伸應用，以利. 讀者對於X 光晶體繞射有更深一層之認識。 X-ray diffraction is an important ...

X光繞射儀（X-ray diffractometer，XRD）是利用X光繞射原理研究物質內部結構的一種大型分析儀器。令一束X光和樣品交互，用生成的繞射圖譜來分析物質結構。它是在X射線 ...

由 陳奎伯 著作 · 2003 — ... X-ray 繞射方. 法獲得NaCl 結晶之晶體結構後，X 光繞射已被用來判定所有晶體之結構. （有機、無機、元素、合金）。同時也廣泛地用於化學分析，應力之量測，. 相圖（Phase ...

在蛋白質晶體中，每一個分子就如同一個柵欄，當X光通過整齊而重複排列的分子時，就會產生繞射現象。進一步，繞射光源彼此間又會形成干涉(圖 2)。

綜合以上，利用X光在晶體中繞射的物理現象就可以得知材料本身結構。所以可以透過不同的光學模組就可以分析粉末、塊材、塗層薄膜、加工過零件以及磊晶材料等。

X-射線繞射峰是由從每組樣品的晶格面在特定角度繞射的單色光建設性干涉產生的，峰值的強度由晶格內原子的分布來決定。因此，XRD圖樣就成為材料中週期性原子排列的指紋。

X 光繞射 (XRD) 及X 光散射皆可用於分析如樣本的晶體結構(X 光晶體學)，或用於辨識樣本中的結晶相並加以量化(X 光粉末繞射/XRPD)。 X 光繞射儀 也可搭配工具和配件增加延伸 ...