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X光的應用相當廣泛,除了穿透式檢測以外,X射線螢光(XRF)的特性可用來進行元素分析與鍍層厚度分析。主要是透過基材與鍍層材料訊號強弱關係進行厚度的計算。膜厚分析的 ...

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