膜厚測量儀之初探

從上層表面和底層表面反射的兩道光,會由於光在薄膜上的入射角、光波相位差異、薄膜層的厚度或薄膜的折射率影響產生的建設性或破壞性干涉(constructiveordestructive ...

膜厚測量儀之初探

從上層表面和底層表面反射的兩道光,會由於光在薄膜上的入射角、光波相位差異、薄膜層的厚度或薄膜的折射率影響產生的建設性或破壞性干涉(constructive or destructive ...

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