檢測技術II 電子顯微鏡Electron microscope 分類

–熱游離發射(thermionicemission)(鎢絲,LaB6),當.到達足夠溫度時,發射出電子束。–場發射槍(fieldemissiongun,FEG),加負電壓於一.金屬尖端上,所加強電場由此 ...

檢測技術II 電子顯微鏡Electron microscope 分類

– 熱游離發射(thermionic emission) (鎢絲, LaB6),當. 到達足夠溫度時,發射出電子束。 – 場發射槍(field emission gun, FEG),加負電壓於一. 金屬尖端上,所加強電場由此 ...

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