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光學膜厚量測儀主要是使用垂直的光源入射樣品，偵測反射光譜的非接觸技術，不需要任何樣品準備就可以測量厚度，適用於半透膜樣品，只需一秒鐘分析從薄膜反射的光就可確定 ...

光學式：光學膜厚儀，除了厚度以外也可以求得折射率以及消光係數（n,k值）等光學常數，在光學膜的領域可以說光學式膜厚計是不二人選。光學式膜厚除了光學膜以外，也被廣泛利用在 ...

以『光學』『非接觸』『高精度』為主軸，配合大塚電子的核心技術光譜儀為心臟部位製成的膜厚量測儀，可在短時間內完成膜厚測量。 非破壞式膜層進行高速膜厚解析，有平行 ...

Filmetrics在全球已賣出超過五千台的膜厚量測儀，以其操作簡單及量測快速聞名。只需要點擊一下滑鼠，我們就可以通過分析薄膜如何反射光(反射光譜) 來獲得薄膜特性。

膜厚測量儀是一種用於精確測量薄膜、塗層和塗料厚度的高效設備。這項新型技術能夠協助客戶實現更精確的厚度測量，從而提升產品質量和生產效率；同時，膜厚測量儀還提供 ...

光學膜厚量測儀的測量方式主要為利用垂直光源照射樣品，並偵測反射光譜，特點為測量中不需要任何樣品準備，也不會損害樣品。適用於半透明膜樣品，也能測量多層薄膜的厚度，只 ...

量測功能, 薄膜厚度、反射率、色度. 系統模式, 反射式光纖或 反射式積分球（8/D, D/8Selective）. 波長範圍, 400-850nm. 量測膜厚範圍, 300-400,000 Angstrom.

光學奈米膜厚量測儀 · 1. 支持PLC連接 · 2. 縮短循環時間（最大200 Hz） · 3. 能夠測量10 nm 的薄膜 · 4. 同時測量厚度和顏色 · 5. 小型化（與C12562 相比安裝面積減少30%）

多角度寬光譜橢偏儀M-2000. 橢偏儀 · J.A.Woollam ; 膜厚儀-Bristol157. 干涉式膜厚儀 · Bristol Instruments ; VS3-視覺型晶圓檢測系統. 晶圓代工相關 · Intellemetrics.

利用反射光譜儀分析反射光，來確定透明膜或半透明膜的膜厚及反射率. 反射光譜. 根據客戶需求專業設計設計規劃IN-LINE膜厚測量系統. 應用例：非多晶矽、CMP、電介質、 ...