即放即測：無需人工對焦造成誤差，測量結果更可靠。□測試速度快：3秒自動對焦，10秒鐘完成50nm級極薄鍍層的測量。□無標樣測量：與以往的技術相比，薄膜FP軟體 ...,主要是量測金屬膜厚，使用X光激發金屬元素厚進行量測。因為價位偏高，適合金屬膜的量測需求，種類也比較受限。其他膜層，則可以考慮使用光學式即可，並依照量測膜種類 ...,膜厚計是一款複合型塗層測厚儀，它能快速、無損、精確地進行磁性金屬基板表面的非磁性塗層厚度及非磁性金屬基板表面的非金屬塗層厚度的測量，同時能自動識別磁性金屬 ...,規格·提供兩種型號—PosiTes...
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