橢圓偏光術(ellipsometry)為利用偏振光射入到待測樣本表面，分析反射光偏振態的一種精密量測技術。,橢圓偏振技術（ellipsometry）是一種多功能和強大的光學技術，可用以取得薄膜的介電性質（複數折射率或介電常數）。它已被應用在許多不同的領域，從基礎研究到工業應用， ...,椭圆偏振技术（ellipsometry）是一种多功能和强大的光学技术，可用以取得薄膜的介电性质（复数折射率或介电常数）。它已被应用在许多不同的领域，从基础研究到工业应用， ...,全新機台「橢圓偏光儀(SpectroscopicEllipsometry)」優惠進駐，歡迎洽詢使用·量測...
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